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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺>GCP50 射頻探針

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GCP50 射頻探針

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南京芯測軟件技術有限公司,專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

優勢特點:


自有的激光+水刀切割探針頭部技術優良的HFSS仿真技術10年以上的阻抗匹配經驗
優良的DC至110 GHz同軸提參技術業內頂配的測量儀表+建模人員團隊滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃

可快速交付50、100、150、200和 250µm的傾斜探頭

可選擇鈹銅或鎳合金材料(推薦鎳合金)擁有超過100萬次的老化實驗



可兼容多家校準片或使用GCC校準片



GCP 50 射頻微波探針:

連接器接頭: 2.4mm母頭

針尖配置: GSG
針尖中心距:50~250um
針尖寬度: 28um
滑行距離: ≤30um


探針頭示意圖

射頻探針









產品有多個型號和不同中心間距可以選擇,詳細選型請聯系我們。


我們的射頻探測技術,用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm,可滿足您的多種測試需求。 使用在線設計捕獲表單,根據您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道,構建您的探針。


注:商用探針尖射頻校準標準采用共面設計,包括不同類型的校準元件:開路、短路、負載和線路。 因此,可以進行各種類型的探頭尖部校準










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