abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡

適用于活細胞超分辨率的自適應STED照明

多種自適應照明技術模塊(RESCue、DyMIN、MINFIELD)

通過智能識別樣品區域和背景區域，減少甚至取消STED損耗光的照射，進而降低光漂白和光毒性多達2個數量級

使用MINFIELD掃描，在活細胞成像中分辨率可低至20nm配合easy3D，可輕松實現STED三維超分辨成像到75x75x75nm

abberior超分辨率 高速三維成像顯微鏡自適應照明

激光只在真正對成像有作用時才照射樣品，幾乎沒有光漂白。

脈沖門控STED

在Facility Line的STED超分辨成像中，激光都是脈沖的，不管是激發激光，還是損耗激光。相比于傳統的連續STED，全新的脈沖門控STED可以只用原來1/12的STED損耗光照射，就達到同樣的分辨率。這是因為傳統的連續STED，在收集熒光的時間窗口之外，仍在毫無意義地照射樣品。

輕松實現3D STED(easy3D STED模塊)

3DSTED分辨率可達75x75x75nm;深度可達80μm

空間光調制器(SLM)在同一條短程光路上快速調制XY和Z方向STED成像，無需復雜低效的拆分和重耦過程，保證超高質量的光學穩定

空間光調制器(SLM)可以靈活分配所需XY和Z方向上的STED量

自適應光學矯正光學誤差，深層厚樣品中輕松實現超高分辨率成像

匹配油鏡、水鏡和硅油鏡頭

·DyMIN、RESCue適于更長時程或更厚3D樣品的超分辨成像

更清晰的STED和共聚焦圖像

MINFIELD STED

集中在更小的視野(比如200x200nm)，用更高功率的STED激光，做更精細的掃描

分辨率可達<20nm!

4鏡光束掃描系統

無掃描透鏡設計，降低光路形變和損耗4鏡獨立可調，保證大視野范圍內同等光斑質量高精準線性齒狀掃描方式和高速度正弦掃描方式超高速激光開關精確控制掃描轉換折角激光開關，保護樣品

彩虹檢測通道

每個APD配有雙漸變濾鏡可以在400-800nm范圍內選擇任意波長成像，檢測帶寬10nm，步進1nm高效阻止雜散光、高熒光透過率配合APD檢測器可以獲得高光譜精度和高信噪比的圖像

極其友好的操作，比共聚焦還簡單

EXpertLine 除了可實現Facility Line的全部功能外,還能根據不同用戶需要定制化各種特殊的軟硬件功能。

正置型的Expert Line easy3D STED顯微鏡

利用lmspector軟件中的easyCommander圖形交互界面方便地為用戶各種特殊復雜實驗進行方便地定制

熒光偏振成像

利用Expert Line開發了熒光偏振各向異性成像和測量的全電動化升級版

可在Expert Line基礎上整合RESOLFT超高分辨率點掃描系統(可轉換綠色熒光蛋白 GFPS)

產品參數

激發激光

405(連續)、440、488、516、561、594、640nm，40MHz 皮秒脈沖激光可選

STED 激光

775nm 標準功率型 1-1.25W@40MHz，AOM 調控;高功率型 2750mW@40MHZ，AOM 調控,成像分辨率<30nm，最高可以達到 20nm

595nm功率 400mW@40MHz，AOM 調控，成像分辨率<40nm

顯微鏡

全電動倒置熒光顯微鏡;6孔電動物鏡轉盤;電動聚焦精度10nm;傾角可調目鏡觀察筒;手動聚光鏡;液晶觸控面板;電動 XY 掃描臺;壓電Z軸掃描器移動范圍 200um，精度 0.7nm;寬場 LED 熒光照明,405nm/470nm/590nm/635nm;寬場1280x9601/2英寸CCD，定制紅外Z軸防漂移裝置,人機工學嵌入式主動防震臺

成像和掃描單元

手選物鏡，可選60x水(NA1.2)、100x油(NA1.4)或100x硅油(NA1.3)物鏡，匹配 STED 光斑標準配置2個 APD 檢測器，最多可升級至4個APD 檢測器，每個 APD 配有獨立彩虹光譜檢測套裝保證低損，無背景，可變光譜檢測

的4鏡掃描(QUAD-scanner)光路設計,任何掃描視野都保持理想激發和同心圓 STED 光斑

共聚焦部分

脈沖激光結合高速、高量子效率光子計數級 APD 成像，門控檢測。16 檔電動針孔轉輪

STED 超分辨率部分

像操作共聚焦顯微鏡一樣，單次掃描可以直接呈現清晰的超分辨圖像全自動全光路校正模塊，日常維護，對所有激光共聚焦、STED光路及針孔對中時間<2分鐘Easy3DSTED 模塊通過空間光調制器(SLM)調控 2D-3DSTED 光斑分配和質量，單光路同軸產生 3DSTED 光斑

2D-STED 分辨率<30x30nm;3D-STED分辨率<100x100x100nm，可達75x75x75nm

光學自適應部分(AdaptiveOptics)

空間光調制器(SLM)用于2D-3DSTED光學誤差校準，DeformableLens用于全系統光學誤差校正RESCue 智能照射模塊，基于共聚焦預掃，非樣品區 STED 光照劑量大幅降低，大大降低漂白DyMIN 智能照射模塊，基于 RESCue 信息，產生中間分辨率預掃，進一步減少 STED 的光劑量同時增強信號強度約一個數量級，同時分辨率可達25nm(2D)(取決于標本和染料)MINFIELD 小視野精細掃描模式，在 200nmx200nm 范圍內分辨率可達20nm(2D)(取決于標本和染料)

STED 用熒光染料

可提供 Abberior STAR 和 LIVE 系列熒光染料，具備高熒光量子產率、高信噪比和抗淬滅性

軟件

極簡化軟件操作，高度自動化的設置引警使用戶不用操心非必要參數逐級開放允許高級用戶控制