化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專(zhuān)用儀器>其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備>其它半導(dǎo)體設(shè)備> 汞CV測(cè)試系統(tǒng)
汞CV測(cè)試系統(tǒng)
- 公司名稱(chēng) 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 波銘科儀
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/27 13:11:49
- 訪問(wèn)次數(shù) 249
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光學(xué)測(cè)試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測(cè)器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺(tái);電動(dòng)位移臺(tái);手動(dòng)位移臺(tái);調(diào)整架;光學(xué)元件
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
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Capability:
Epi layer characterization
-Dopant Profile-N(x)
-Resistivity Profile-p(x)Gate metrology
-Oxide thickness-EOT
-Flatland, threshold voltage-VFB,VT
Effective oxide charge-QEFF
-Dielectric constant-k
-Interface state density-DitIV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
.Constant current modes
-Leakage current-lL
-VBDfor HMET
-Field-to-breakdown-FBD
-KSB, tsb,QBD, Vmax
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶(hù)遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。