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RapidXAFS  2M 吸收譜XAFS

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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安徽吸收譜專注于X射線吸收發(fā)射譜技術(shù)和光譜儀器開發(fā),為科研人員提供專業(yè)的吸收發(fā)射譜技術(shù)解決方案。公司由院士牽頭,基于同步輻射背景的博士在吸收發(fā)射譜領(lǐng)域10余年的技術(shù)研究積累,開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)化的臺式X-射線吸收設(shè)備譜設(shè)備。

公司秉承“讓XAFS走進(jìn)實驗室”的技術(shù)追求,鉆研吸收發(fā)射譜技術(shù),發(fā)揚(yáng)工匠精神和現(xiàn)代科學(xué)創(chuàng)新精神,持之以恒推進(jìn)X射線技術(shù)和儀器設(shè)備研發(fā)。

 

 

X射線吸收/發(fā)射譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,能源

核心優(yōu)勢

長久以來,X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機(jī)時有限,無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年,XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級期刊的“標(biāo)配”,致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS走進(jìn)每個實驗室的理念,中國科學(xué)院高能物理研究所和中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)。

RapidXAFS 2M吸收譜XAFS產(chǎn)品優(yōu)勢:

多功能:

提供科研級高質(zhì)量XAFS圖譜

高性能:

1小時內(nèi)完成1%含量樣品測試

能量范圍:

4.5-15 keV,可擴(kuò)展至20 keV

高光通量:

>2,000,000 photons/sec@7~9 KeV

測試元素:

在實現(xiàn)3d,5d,稀土元素過渡金屬 XAFS 測試

簡單易用:

只需半天培訓(xùn)即可上機(jī)操作

自主可控:

90%部件自主可控,無政策風(fēng)險

低維護(hù)成本:

無需專人維護(hù)、操作、管理等

RapidXAFS具有如下特點(diǎn):

最高光通量產(chǎn)品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV,采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量

優(yōu)異的穩(wěn)定性

光源單色光強(qiáng)度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%,重復(fù)采集能量漂移<50 meV

1%探測極限

高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)

RapidXAFS 2M吸收譜XAFS儀器原理

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。

主要有以下優(yōu)點(diǎn):

1.不依賴于長程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;

2.不受其它元素干擾,可對同一材料中不同元素分別研究;

3.對樣品無破壞,在大氣環(huán)境下測試,可進(jìn)行原位測試;

4.不受樣品狀態(tài)影響,可測量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;

5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù),原子間距精確度可達(dá)0.01A。

實驗室單色儀XES測試幾何結(jié)構(gòu)

實驗室單色儀XAFS測試幾何結(jié)構(gòu)

mn.jpg

Mn數(shù)據(jù),Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致

清晰.jpg

Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù):core to core XES 和 valence to core XES

XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)和擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV,來源于X射線激發(fā)出來的內(nèi)層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應(yīng)的結(jié)果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍,其主要來源于X射線激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應(yīng)。

測試數(shù)據(jù)

Foil EXAFS數(shù)據(jù)

微信圖片_20230619114508.jpg

低濃度實際樣品數(shù)據(jù)(0.5%)                                                      

可測元素:綠色部分可測K邊,黃色部分可測L邊

可測元素.png

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用:

  • 工業(yè)催化

  • 儲能材料

  • 納米材料

  • 環(huán)境毒理

  • 也質(zhì)分析

  • 重元素分析






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