| 應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源 | 能量范圍 | 4.5-20keV |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近邊) | X射線光源 | 1.2-1.6kW閉管 |
| 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV | 單色器晶體 | 直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge)) |
| 探測器 | SDD探測器 | 自動樣品輪 | 16工位 |
一、工作原理
X射線近邊吸收譜儀利用光子的能量與物質內部電子能級的差異，通過測量X射線在物質中被吸收的能量來分析物質的電子結構。在X射線近邊吸收光譜中，每種元素的吸收譜線都具有不同性，這使得我們能夠通過這種技術來準確鑒定物質中元素的種類和數量。此外，該技術還能用于研究物質的物理和化學性質，如電子結構的變化、化學鍵的形成和斷裂等。
二、工作特點
小型化桌面式系統，易于使用：
1.支持近邊快掃功能；
2.支持原位測試等擴展功能；
3.人體工學高度設計，操作更便捷；
4.內置實驗參數預置，實現快速測量；
5.不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
6.遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
7.專業的應用技術支持和數據分析支持；
8.儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶：
1.不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
2.預準直安裝，即插即用；
3.可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
三、應用領域
1.材料科學：可用于研究材料的晶體結構、電子結構、元素分布等，為材料的設計和優化提供重要依據。
2.能源與環境：可用于研究新能源材料的電子結構、化學反應機理等，為新能源的開發和利用提供有力支持。
3.生物學：可用于研究生物大分子的空間構象、功能基團以及相互作用等，為生物醫藥研究提供有力支持。
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