SE500A 粗糙度測定機
- 公司名稱 無錫浩輝者新材料科技有限公司
- 品牌 KOSAKA/小坂研究所
- 型號 SE500A
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/9/9 9:50:46
- 訪問次數 374
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,電子,電氣,綜合 |
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粗糙度測定機
● 多功能的表面粗度、波紋度、段差測定。
● 對應各國的工業規范、多樣化的參數、可同時解析多種規格。
● 是精密輕便的高性能測定機,另有多種組合(搭配立柱床臺)擴充性*可對應多種工件。
● 55mm長的驅動距離且具備直線度精度。
● 搭配觸控螢幕及一鍵式測量按鈕,便于操作。較寬廣的記錄紙有效幅寬,擴大形狀記錄范圍。另可使用USB儲存測量結果。
● 具備自動的校準機能。
粗糙度測定機
測定參數 | JIS (2001/94/82)、DIN、ISO、ASME |
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測定范圍 | Z:800?m X:55mm (Aserie) |
最小分解能 | 0.08nm |
測定倍率 | 縱:50-200,000、AUTO 橫:1-1,000、AUTO |
直線度精度 | 0.3um/55mm |
組合 | 攜帶式到桌上型有7機種供選擇 |
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經驗及對檢測設備及技術的研發與應用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術,以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結果。也可依顧客需求,提供完整專業的系統解決方案。目前服務于各大專院校、研究機構、產業界研發單位和具備自主研發能力的大型企業,期望對國內外的科研及產業盡一份心力。
無錫浩輝者科技在過去服務對象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測分析平臺,用以了解相關材料在實際應用操作下的物理化學特性。包含掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡用以進行材料之表面型態以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進行材料之鍵結型態、官能基型態以及晶體結構狀態分析;X射線熒光分析儀用以進行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質譜儀用以辨別化學結構物質之比例組成,透過不同溫度之熱裂解更可進一步了解材料內部之相關添加物質,并結合鍵結型態、官能基型態以及晶體結構狀態可進一步推廣至逆向工程檢測服務平臺。透過浩輝者科技的材料檢測分析與逆向工程分析儀器技術平臺,可得知各種材料的完整物理化學特性,并建立完整的材料認證體系。
由于科技不斷的創新進步,浩輝者也在積極地尋找并開發*的光譜&影像關鍵技術及All-in-one多功能產品提供給顧客,公司所有同仁更努力不懈求創新、求進步,期望能提供顧客優質的服務及質量,并在未來與顧客共同成長茁壯。