機床定位激光干涉儀

美國API激光干涉儀

基本上，激光干涉儀都使用氦氖激光器的632.8 nm波長的光，橙紅燦爛的光束射向遠方，發散角可以小到0.1 mrad，光束截面的光斑均勻。氦氖激光器還可輸出綠光、黃光、紅外光，但只有632.8 nm波長的光適合作激光干涉儀的光源。其它類型的激光器，如半導體（LD）、固體激光器等的相干等性能都遠不及氦氖激光器，研究人員多有嘗試，但都沒有成功。

激光干涉儀有很多應用，但本質都是測量中學課本講的“位移”，諸多應用都是“位移”的延伸和轉化。激光干涉儀有兩個主流類型：單頻激光干涉儀和雙頻激光干涉儀。

美國API激光干涉儀單頻干涉儀能做的雙頻激光干涉儀都能做，但雙頻干涉儀能做的單頻干涉儀不見得能做。由于歷史、技術和商業原因，兩種干涉儀都有著廣泛應用。但在光刻機上，雙頻激光干涉儀市場。

美國API激光干涉儀單頻干涉儀不需要對市場上的氦氖激光器進行改造，直接可用。但雙頻激光干涉儀用的激光器需要附加技術使其產生雙頻（兩個頻率）。

歷，雙頻激光干涉儀測量位移的速度不及單頻激光干涉儀，自從發明了雙折射-塞曼雙頻激光器，雙頻激光干涉儀的測量速度也達到每秒幾米，與單頻激光器看齊了。

按產生雙頻的方法，雙頻激光干涉儀分為塞曼雙頻激光（國外）干涉儀和雙折射-塞曼雙頻激光（國內）干涉儀。

現在干涉儀的指標：最小可感知1 nm（十億分之1 m），可以測量百米長的零件，且測量70 m長的導軌誤差僅為幾微米。