STELLARIS 5 Cryo 冷凍共聚焦光學顯微鏡
- 公司名稱 徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2023/8/17 20:02:25
- 訪問次數 184
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低溫電子斷層掃描工作流程
以簡單、可靠且高效的方式進行共焦三維目標結構定位以輔助后續的冷凍電子斷層掃描
您可以信賴的性能
受益于STELLARIS 5系統的共聚焦成像性能
我們的冷凍電子斷層掃描工作流程解決方案
我們提供專用的Coral Cryo三維冷凍電子斷層掃描工作流程解決方案,可確保樣本活性、進行質量檢查,重要的是確保三維目標定位機制精準可靠。
STELLARIS 5 Cryo包含冷凍臺和傳送梭,旨在配合*的CryoET目標定位軟件(LAS X Coral Cryo),以及適用于冷凍聚焦離子束(FIB)或真空冷凍傳送(VCT)載物臺的各種無縫集成和傳送選項。
通過無縫銜接的樣本制備工作流程提高工作效率。
可靠的靶向精準度
對于相關的工作流程,至關重要的是檢索冷凍光學顯微鏡下識別的確切靶點坐標,因為熒光信號在隨后的電子顯微鏡步驟中不可見。
因此,具有獲取開放格式坐標的STELLARIS 5 Cryo顯微鏡中進行目標定位,以提高系統的互操作性。
易于使用的LAS X Coral Cryo軟件模塊可滿足這些需求,它具有基于插值的創新性三維目標定位功能,能夠在納米尺度上精準定位開放格式的坐標標記。不同的標記類型提供不同的功能,還可用于標志、薄片和熒光珠標記。
使用LIGHTNING可從樣本中獲得豐富的信息
Power HyD探測器系列、優化的光束路徑與 白光激光器 (WLL)相結合,使您能夠獲得更準確、可靠的數據。
運用的LIGHTNING檢測理念,盡可能地從您的玻璃化冷凍樣本中提取信息,獲得對科學問題的深入解答。 這是一個自適應的信息提取過程,可以呈現圖像信息中原本不可見的精細結構和細節。
因此,您可以在電鏡顯微成像工作流程的后續步驟中更精準地定位感興趣的結構。
您可以信賴的性能
在冷凍電子顯微鏡中,必須在整個工作流程中監測冰層厚度,而且越早檢查和評估越好。如果冰層太厚,會在打磨階段造成問題,而如果冰層太薄,又可能會影響樣本的穩定性。
STELLARIS 5 Cryo提供了兩種冰層檢查模式:快速攝像概覽和共聚焦反射模式,以三維方式確定冰層厚度。
開發Cryo CLEM物鏡HC PL APO 50x/0.90是為了滿足冷凍光學顯微成像的特定需要,為您提供超分辨率的優勢,同時又不需要浸液。
發現更多奧秘的潛力
我們在STELLARIS 5 Cryo內采用的TauSense技術,使您能夠從每個樣本中提取額外的一層信息,提升您所做研究工作的科學影響力。
除了光譜顏色信息外,還可以觀察光子的平均到達時間。這些信息可以用來發現隱藏的組分,只需了解不同的熒光壽命即可(TauContrast)。
由于冷凍工作流程(如Coral Cryo)中的深部溫度,熒光團的發射和激發窗口趨于一致。由于平均光子到達時間不同,TauSense使您可以將重疊的熒光團分離。
提高實驗效率
在所有冷凍工作流程中,一旦樣本被玻璃化,就需要將樣本保持在除濕和極低溫條件下。
我們創新性的冷凍顯微成像套件配備冷凍臺和傳送梭,可以確保安全、直觀地進行樣本裝載和直接傳送,同時始終保持標本的安全冷凍條件。
冷凍臺使您能夠在穩定的冷凍條件下進行光學顯微成像,同時通過保持氣態氮對周圍空氣的恒定輕度過壓,允許所有必要的運動以實現超分辨率的三維成像。
為了使樣本在裝載過程中更加安全,可選擇在裝載過程中使用一個承載傳送梭的蓋盒,以確保在所有條件下安全裝載,從而提供額外的過程控制并延長安全裝載時間窗。