賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡簡介：

   2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性，提高測試效率！

   賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡特點：

   更加人性化的新一代操作軟件，任何人都能輕松操作，無需專業測試人員。并提供豐富的擴展功能：顆粒物自動分析，3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速，減少等待的煩惱，提高測試效率。小巧而精致的設計，可在狹窄的空間內安裝使用。

   1）5nmResolution250,000xMagnification：

   同級別最高性能的StageNavigation功能
    
   優于5um的高精密navigation移動，可迅速位移
    
   同級別不二標配全自動5軸樣品臺

   搭載全新的第三代操作軟件
    
   任何人均可簡單操作
    
   強大的自動功能

   超快的真空系統
    
   Vacuum90sec,Venting15sec
    
   同級別最快的真空系統

   豐富的擴展功能
    
   3D粗糙度分析，超大視野拼圖軟件
    
   顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)

   CompactDesign!更強大的性能!
    
   與現有型號相比，Dimension減少了40%
    
   300(W)x465(D)x600(H)

   強化用戶便利功能
    
   自動獲取Navigation圖像
    
   關閉樣品倉的同時開始自動抽真空

   2）HIGH-PERFORMANCEHARDWARE

   最高放大倍率25萬倍，5nmResolution，實現同級別最高放大倍率及超高分辨率，通過全新的高精密電子光學系統，獲取高質量圖像。

    3）五軸全自動樣品臺

   優于5um的高精密全自動樣品臺，實現迅速位移并精準的找到樣品位置

   
  小巧而精致的設計，進一步提高空間使用率

   -與現款相比，Dimension減少40%

   -小巧緊湊，可在狹窄的空間內安裝使用

   -300(W)x465(D)x600(H)

   NEW第三代Nano-eye

   全新的操作軟件，提高用戶體驗

   注重人性化的操作界面，操作更加便捷，在短時間內輕松獲取高質量圖像

   強大的自動功能

   *的AutoFocus功能，可快速獲取高質量圖像

   超大視野拼圖功能：

   超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗，通過超大視野拼圖功能，觀測樣品全貌，得到大范圍的高分辨率圖像

   所需區域后無需人員操作，軟件開始自動區域掃描，并將圖像拼成全景圖像，方便觀測并提高效率。

   3D粗糙度分析

   通過四分割BSE探測器，重構3D立體圖像，簡單快速的分析表面粗糙度

   EDS（EnergyDispersiveX-raySpectrometer）是一種安裝在SEM（電子顯微鏡）上的分析樣品表面成分的裝置。

   利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上，接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

   Features：

   硅漂移探測器（SDD）

   30mm2有效面積

   超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

   能量分辨率MnKα≤129eV

   帕爾貼制冷，無需液氮或其他冷卻劑

   簡便的操作軟件，快速實現對材料的微區化學成分分析

   主要功能：定性·定量分析,MappingLineScan,Report等