Tonghui精密阻抗分析儀TH2851-080

Tonghui精密阻抗分析儀TH2851-080

• TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷；中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。

    快達2.5ms的測試速度、及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

   

  A.  高精度

  自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達到理想的測量精度，其中最高精度達0.08%，遠遠高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

  

  B.  高穩(wěn)定性和高一致性
  

  下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

  

  
  

  C.  高速度

  

  
  

  D.  10.1寸大屏，四種測量參數(shù)，讓細節(jié)一覽無遺
  

  10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

  大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

  

  
  

    E.  增強的列表掃描功能
  

  可以最多設(shè)置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

  

  
  

  F.  強大的分析圖形界面

  
  

  最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

  
  

  
  

  G.分段掃描功能

  最多可以4通道同時顯示，每個通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進行掃描，掃描時可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。

  如晶體諧振器需要測試標稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量，無需掃描不相關(guān)頻率。

  
  

  H.強大的光標分析能力

  TH2851系列精密阻抗分析儀具有強大的光標分析能力，可以通過光標實現(xiàn)如下功能：

  1. 讀取測量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對數(shù)值或者相對于參考點的相對值）

  2. 查找曲線上的特定點（光標查找）

  3. 分析曲線測量結(jié)果，計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)

  4. 使用光標值修改掃描范圍以及縱坐標縮放

  TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標，包括了參考光標。

  每個光標有一個激勵值（坐標系 X 軸對應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標系 Y 軸對應(yīng)的數(shù)值）。

  光標查找功能允許搜索下列條件測量點：最大值、最小值

  峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標左側(cè)最近的峰谷值、光標右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

  目標值： 距離光標最近的目標值、光標左側(cè)最近的目標值、光標右側(cè)最近的目標值、多重目標值

  
  

  G.強大的圖形分析功能

  1） 曲線分選功能

  可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

  2）等效電路分析測試

  現(xiàn)實生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

  可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實際測量的阻抗曲線進行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進行擬合。

  等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

  

  

  3） 晶體振蕩器分析

  對壓電陶瓷等晶體進行測量以及性能分析，測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

  

  
  

  4） 曲線軌跡對比

  曲線軌跡對比用于對被測件進行連續(xù)測量，所有曲線顯示在同一個坐標系中。由下列兩種應(yīng)用：

  a) 針對多種不同被測件

  對比不同測量條件下的曲線軌跡

  設(shè)置不同的頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值

  b) 針對同一個被測件

  對比同一個條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性

  設(shè)置不同頻率點，計算出所有曲線在該頻率點的測量值。

  

  
  

  F.標配附件

  

  F.選配附件

  

  
  

• 技術(shù)參數(shù)

• 產(chǎn)品型號		TH2851-015	TH2851-030	TH2851-050	TH2851-080	TH2851-130
  顯示		10.1英寸TFTLCD顯示器1280×RGB×800，電容式觸摸屏
  AC測量參數(shù)		Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC
  DC測量參數(shù)		VDC、IDC、DCR
  測試頻率	范圍	10Hz - 15MHz	10Hz - 30MHz	10Hz - 50MHz	10Hz - 80MHz	10Hz - 130MHz
  	最高分辨率	1mHz
  	頻率相對誤差	≤±0.0007%
  測試電平	AC電壓	5mV - 2Vrms
  	分辨率	1mV
  	AC電流	50uA - 20mArms
  	分辨率	10uA
  DC偏置	電壓	0V - ±40V
  	電壓分辨率	1mV
  	電流	0mA - ±100mA
  	電流分辨率	40μA
  測試端配置		四端對
  輸出阻抗		25Ω/100Ω
  典型測量時間（速度）		五檔：1(快速) - 5(精確) 1:2.5ms       2:10ms     3:40ms     4:80ms      5:400ms （不包括通訊時間的算數(shù)平均值，每個頻率測試速度會略有不同）
  最高準確度		1kHz：0.08% 1MHz：0.08% 2MHz：0.5% 10MHz：1% 130MHz：5.0%
  測量顯示范圍		a   1×10-18；  E   1×1018
  Cs、Cp		±1.00000   aF - 999.999 EF
  Ls、Lp		±1.00000   aH - 999.999 EH
  D		±0.00001   - 9.99999
  Q		±0.01   - 9999.99
  R、Rs、Rp、X、Z		±1.00000   aΩ - 999.999 EΩ
  G、B、Y		±1.   00000 aS -  999.999 ES
  Vdc		±1.00000   aV - 999.999 EV
  Idc		±1.00000   aA - 999.999 EA
  θr		±1.00000   a rad - 3.14159 rad
  θd		±0.0001   deg - 180.000 deg
  Δ%		±0.0001%   - 999.999%
  多功能參數(shù)列表掃描		1601點，每個點可設(shè)置平均數(shù)，每個點可單獨分選 掃描參數(shù)：測量參數(shù)、測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流
  圖形掃描	參數(shù)	頻率、ACV、ACI、DCV、DCI
  	類型	對數(shù)、線性、頻率分段
  	點數(shù)	2-1601
  	通道數(shù)	4
  	曲線數(shù)	4條/通道
  	分屏顯示	16種（通道和曲線）
  等效電路分析		3元件模型：4個、4元件模型：3個
  晶體振蕩器分析		有
  曲線軌跡比對		有
  分選		LCR模式10檔分選；掃描模式每條曲線單獨分選
  接口		RS232C，USB   HOST、USB   DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
  開機預(yù)熱時間		60分鐘
  輸入電壓		100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
  功耗		最大150VA
  尺寸（WxHxD）mm3		428x220x325
  重量		14.5kg