| 兼容性 | 適配Thermofisher/FEI、JEOL、Hitachi透射電鏡 | 原位功能 | 光電測量、光譜分析 |
|---|---|---|---|
| 樣品桿傾轉 | 單傾、雙傾 |
PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位光學樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量及光譜學分析，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
技術指標
原位光學樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實際實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
1、透射電鏡內的原位光電測量實驗；
2、透射電鏡內的陰極發光（CL）實驗；
3、透射電鏡內的原位電致發光譜實驗。
技術指標
| 電學測量 | 光纖指標 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.芯徑可選，外徑250um； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.光纖快拆接口：SMA、FC等； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.光源可選：4波段半導體激光器、波長連續可調氙燈光源； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t | 5.光譜儀：根據用戶具體需求匹配 |
Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy
doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796
Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679
產品選型
原位光學樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實際實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
1、透射電鏡內的原位光電測量實驗；
2、透射電鏡內的陰極發光（CL）實驗；
3、透射電鏡內的原位電致發光譜實驗。
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