| 兼容性 | 適配Thermofisher/FEI、JEOL、Hitachi透射電鏡 | 原位功能 | 電學測量、力學操縱 |
|---|---|---|---|
| 樣品桿傾轉 | 單傾、雙傾 |
PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位電學測量樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
技術指標
產品選型
原位電學測量樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
技術指標
| 電學測量 | 力學操縱 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.探針粗細調方式：全軟件操控； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.粗調范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.細調范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.細調分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t |
產品選型
原位電學測量樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內的原位電學實驗；
2、透射電鏡內的原位壓縮、拉伸實驗。
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