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渦流陣列探頭

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渦流陣列探頭探頭

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增宜檢測(cè)技術(shù)(上海)有限公司是一家專(zhuān)注于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,理化分析計(jì)量?jī)x器,實(shí)驗(yàn)室科研器材銷(xiāo)售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽(yù)*的先進(jìn)產(chǎn)品。

我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測(cè)儀、渦流儀、激光間隙測(cè)量?jī)x、X射線機(jī)、平板探測(cè)器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測(cè)儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計(jì)、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。

我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車(chē)、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高??蒲械榷鄠€(gè)行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶(hù)的良好口碑。

公司秉承“至信卓業(yè),客戶(hù)至上”的經(jīng)營(yíng)宗旨,崇尚“專(zhuān)業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長(zhǎng)期且可信賴(lài)的合作伙伴。

主要代理如下公司產(chǎn)品:

奧林巴斯測(cè)厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀

 

Third Dimension英國(guó)三維激光間隙測(cè)量?jī)x

 

ZETEC探傷儀

 

GE美國(guó)通用電氣測(cè)厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)

 

萬(wàn)睿視平板探測(cè)器/管頭

 

Eddyfi & M2M探傷儀

 

美國(guó)磁通磁粉滲透

Eddyfi & M2M探傷儀

 

奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2,英國(guó)三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測(cè)量?jī)x,美國(guó)萬(wàn)睿視Varex射線數(shù)字平板探測(cè)器,奧林巴斯超聲波探傷儀,奧林巴斯渦流探傷儀,內(nèi)窺鏡,元素分析儀,美國(guó)磁粉滲透

供貨周期 現(xiàn)貨 應(yīng)用領(lǐng)域 化工

渦流陣列(ECA)技術(shù)提供以電子方式驅(qū)動(dòng)和讀取多個(gè)并排放置在同一探頭中的渦流傳感器的能力。通過(guò)使用多路傳輸功能,可避免單個(gè)線圈之間的互感,使數(shù)據(jù)采集成為可能。

渦流陣列儀器


OmniScan MX ECA/ECT

這款儀器可以進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感線圈(使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,并提供可以在同一采集操作過(guò)程中使用多個(gè)頻率的選項(xiàng)。

OmniScan MX
經(jīng)過(guò)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的、可靠的儀器

OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、性能可靠的儀器,其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用,可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測(cè)環(huán)境中正常工作;現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬(wàn)臺(tái)。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節(jié)鋰離子電池供電,在電池滿(mǎn)電量時(shí),可以進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)。

OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像,在大多數(shù)光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶(hù)可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡(jiǎn)潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器,方便對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

OmniScan MX

一個(gè)平臺(tái)、兩款模塊、三種技術(shù):靈活適用性更強(qiáng)

為了滿(mǎn)足更廣泛應(yīng)用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(cè)(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(cè)(BT)C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點(diǎn),只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換,操作人員接受少許培訓(xùn)即可。



EC表面探頭ECA探頭粘接檢測(cè)C掃描
OmniScan MX模塊

常規(guī)ECT

渦流陣列

粘接檢測(cè)C掃描

ECT4模塊

不被支持

ECA4-32模塊


支持大多數(shù)Nortec探頭

支持32個(gè)機(jī)載通道;使用外置多路轉(zhuǎn)換器時(shí),可支持64個(gè)通道

要求使用特殊適配器和掃查器

 

OmniScan MX Aero
ECA與ECT別無(wú)二致 
覆蓋范圍廣,掃查速度快,檢出概率高

渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式(驅(qū)動(dòng)器-拾波器)探頭線圈,以便在一次掃查檢測(cè)中覆蓋更大的范圍。此外,每款ECA探頭型號(hào)都經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì),可在沿探頭長(zhǎng)度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶(hù)在使用OmniScan MX ECA探傷儀時(shí),可以非常快的速度手動(dòng)移動(dòng)ECA探頭進(jìn)行檢測(cè),并借助彩色圖像和歸檔功能,完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測(cè)。 

 

原理

單線圈:光柵掃查

陣列探頭:?jiǎn)涡袙卟?/p>

透過(guò)薄涂層進(jìn)行檢測(cè)

渦流檢測(cè)(ECT)技術(shù)基于以下磁耦合工作原理:接近被測(cè)工件(鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料)的探頭傳感器(線圈)在被測(cè)工件中產(chǎn)生渦流,并在儀器的阻抗圖中顯示信號(hào)。使用渦流技術(shù)時(shí),只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi),一般為0.5毫米到2.0毫米,就可以透過(guò)薄涂層(如:漆層)探測(cè)到材料中的缺陷。

渦流陣列(ECA)和渦流檢測(cè)(ECT)技術(shù)基于相同的基本原理(和物理學(xué)理論),因此也可以透過(guò)漆層進(jìn)行檢測(cè),而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢(shì):覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高,及可進(jìn)行彩色成像。

 

透過(guò)薄涂層進(jìn)行檢測(cè)

渦流檢測(cè)使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化,以更好地適用于特定的應(yīng)用。

  1. 交流電流在所選的頻率下通過(guò)線圈,在線圈周?chē)a(chǎn)生磁場(chǎng)。

  2. 當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時(shí),材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。

  3. 如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,則探頭的磁耦合效果會(huì)發(fā)生改變。通過(guò)測(cè)量線圈的阻抗變化,可以解讀缺陷信號(hào)。




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