布魯克光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性，可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統，配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

ContourX-200還配有業界*進的操作和分析軟件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析，可用于表面粗糙度，RDL進封裝工藝厚度等測試。

布魯克光學輪廓儀ContourX-200測量與分析功能

·易于使用的界面，可快速準確地獲得結果

·自動化功能用于日常測量和分析

·*泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析

·滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告

*進計量設備

·基于超過四十年的專有WLI創新，ContourX-200光學輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲、快速、精度的準確結果。

·通過使用多個鏡頭和集成的特征識別功能，設備可以在各種視野內以亞納米垂直分辨率跟蹤特征，可用于各種不同行業中的質量控制和過程監控應用。

·ContourX-200對于反射率從0.05％到100％的各種表面都非常易于測量。

高性能表面計量

·放大倍率無關的Z軸分辨率

·大尺寸的標準視場

·穩定集成防震設計