FPTOK-Mueller 穆勒矩陣偏振測量儀
- 公司名稱 孚光精儀(中國)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FPTOK-Mueller
- 產(chǎn)地 www.felles.cn/polarimeter.html
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/11/22 11:08:22
- 訪問次數(shù) 1327
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子 |
這款穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析測試儀和Spectroscopic Polarimeter,可測量400nm~800nm范圍每個波長的偏振態(tài)。該穆勒矩陣偏振測量儀還具有雙折射偏振測試、斯托克斯偏振測試和映射mapping測量等功能,非常適合液晶顯示器、投影儀、偏振光學(xué)元件、偏振光學(xué)、晶體、生物樣品、熒光偏振等偏振態(tài)測量分析。
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter特點
•無需校準(zhǔn),儀器在整個波長范圍內(nèi)進行了校準(zhǔn)。
•波長分辨率高達2nm,采用分光計代替帶通濾波片。
•可測量發(fā)散角和散射光,不僅可以測量準(zhǔn)直光,還可以測量各種物質(zhì)發(fā)光和反射光。
•用戶友好軟件,控制軟件非常易用,便于用戶控制和查找結(jié)果,測量結(jié)果存儲在csv文件中。
各種偏振能力測量
•雙折射測量:在0~10萬nm量級范圍內(nèi),可同時測量快軸方向和延遲量。
•穆勒矩陣測量:可以進行更高水平的偏振分析。
•Mapping繪圖能力:自動XY工作臺可選配,方便樣品偏振特性的分布。
客戶訂制化系統(tǒng)
我們可以對標(biāo)準(zhǔn)斯托克斯偏振測量儀 按照客戶要求進行定制,比如紫外-近紅外(UV-NIR)偏振態(tài)測量儀、用于測量微弱光的高靈敏度斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)、連接到顯微鏡上的斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)等等。
偏振樣品的高級分析
利用外加的偏振態(tài)發(fā)生器(PSG)和軟件可以測量樣品的偏振特性。穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter的PSG和測量頭單元可自由布置。它為需要構(gòu)建適合多種應(yīng)用的測量系統(tǒng)的用戶提供了方便。從測量的幾個stokes參數(shù)可以計算出如下偏振特性。
線二色性——線偏振光吸收
圓二色性——圓偏振光的吸收
線性雙折射——相移(線性?圓偏振)
旋光——線偏振的旋轉(zhuǎn)
去極化——降低DOP的能力
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter規(guī)格
測量參數(shù) 斯托克斯參數(shù)(S0,S1,S2,S3),橢圓度,偏振方向,偏振度(DOP,DOLP,DOCP),偏振消光比
數(shù)據(jù)繪圖 圖形(波長v.s.參數(shù)),圖形(數(shù)據(jù)點v.s.參數(shù)數(shù)量),龐加萊球,Ellips視圖,警報(低光,飽和時)
特色功能 單次掃描,連續(xù)掃描,確認(rèn)掃描,自動曝光
斯托克斯偏振計
波長范圍 400~800nm
波長分辨率 <2nm
波長數(shù) 1500
最小測量時間 6秒
高精度模式測量時間 >20秒
精度 <2%
重復(fù)精度 0.01@3σ(斯托克斯參數(shù))
方向精度 ±0.2度(基準(zhǔn)面為底面)
測量原理 波片旋轉(zhuǎn)、波片和分析儀旋轉(zhuǎn)
雙折射偏振計
原理 雙斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長 與斯托克斯偏振計相同
測量時間 斯托克斯測量值的2倍
遲滯范圍 0~λ/2納米,使用擬合方法,最大值為100000nm
快速軸范圍 ±90度
重復(fù)性 1度(延遲)
穆勒矩陣偏振計
原理 四斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長 與斯托克斯偏振計相同
測量時間 斯托克斯測量值的4倍
重復(fù)性 ±0.01(16個矩陣元素)
數(shù)據(jù)分析 線性二向衰減,圓形二向衰減,線性雙折射,圓雙折射,去偏振