緊湊的測試儀，用于快速、準確地鑒定無源光元器件（復用器/解復用器、濾波器、分光器等）和模塊（ROADM、WSS）。覆蓋從1240到1680 nm的頻譜范圍，因此可在整個電信頻段上進行測量。借助PDL選件，可同時測量插損和偏振相關(guān)損耗。

主要功能

• 快速測量變換函數(shù)（插損）

• 波長范圍：1240-1680 nm（SMF型號）

• PM和PDL選件

• 波長分辨率：1至250 pm

• 波長精度：±5 pm

• 動態(tài)范圍：單次掃描時65 dB

• 最多可結(jié)合4個可調(diào)諧激光器（SMF型號）

• 配備四個內(nèi)部檢測器，可通過同步進行擴展

• 19英寸機架支持1U版本

快速測量插損

CT400地將高速電子設(shè)備和光干涉測量技術(shù)結(jié)合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道，單次激光器掃描的動態(tài)范圍為65 dB。此外，可在任何掃描速度實現(xiàn)±5 pm的波長精度，因此不需要在測量速度和精度間進行取舍。

準確測量插損

CT440緊湊型測試儀集成了一個監(jiān)測光電探測器，在掃描期間補償來自激光光源的任何功率波動。可以不考慮激光器掃描速度，在1和250pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長精度外，內(nèi)置的波長計可減輕對可調(diào)諧激光光源（TLS）的要求，從而在不影響測量性能的情況下降低系統(tǒng)成本。CT440在與TLS和PC連接時，可提供執(zhí)行測量所需的各種功能。

緊湊型測試儀支持全頻段

CT440（SMF型號）覆蓋從1240到1680 nm頻譜范圍，且*兼容EXFO的T100S-HP系列可調(diào)諧激光器。例如，將T100S-HP-O+、T100S-HP-ES、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型號結(jié)合起來，實現(xiàn)全頻段測試。在使用多臺TLS時，CT440可自動在激光器間切換，實現(xiàn)無縫的全頻段測量。它與DUT間只需進行一次連接，這意味著不需要外部開關(guān)。

                                用于全頻段鑒定的典型配置

PM選件

CT440-PM可測量對偏振很敏感的元器件（如MZ調(diào)制器）的插損，此時在TLS輸入和輸出端口間需要一條偏振保持光纖。有兩個型號，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm），或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）。因此，這些型號要求偏振保持的可調(diào)諧激光器，例如分別要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M。

PDL選件

CT440-PDL集成了一個偏振態(tài)發(fā)生器，從而能夠通過連續(xù)的偏振控制掃描，鑒定插損和偏振相關(guān)損耗的頻譜（基于穆勒矩陣法）。有兩個型號，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm），或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）。因此，這些型號要求偏振保持的可調(diào)諧激光器，例如分別要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M。

                              使用CT440-PDL測量PDL

其它功能

激光線外差檢測（SMF型號，TLS輸入端口數(shù)≥2）

可將被測信號（SUT）連接到TLS第二個輸入端口上。在激光器掃描整個波長范圍的過程中，CT440會在穿過SUT波長時生成并檢測干涉圖樣。因此，CT440可用作多波長計。

使用*的基準激光器或光纖耦合的氣體腔重新校準系統(tǒng)

可使用支持外差檢測功能的基準激光器，或支持波長基準測試功能的氣體腔，進一步提高精度。

帶內(nèi)置分析功能的控制軟件

提供直觀全面的GUI，便于激光器管理、基準測試、掃描配置和濾波器分析。

*的遠程控制

借助DLL和CT440隨帶的示例軟件代碼，可隨時將元器件測試整合到復雜的遠程控制程序中。

外形小巧

CT440有全新的機架式版本（高度為1U），是空間有限的實驗室的理想之選。

備注

a. 用于采樣分辨率為5 pm，> 5 nm進行的TLS掃描，對于PDL-O和PDL-SCL，采樣分辨率為1 pm，不包括TLS掃描的加速和減速部分。
b. 在波長基準測試后。
c. 對于檢測器上的入射功率> -30 dBm。精度：±0.5 dB，用于-30 dBm和-60 dBm之間的功率。
d. 1260 nm至1640 nm。
e. 如果激光器輸入功率 = 10 mW（動態(tài)范圍與激光器輸出功率成比例）。
f. 對于檢測器上的入射功率 > -30 dBm，根據(jù)分辨率為5 pm時6個狀態(tài)測量結(jié)果確定。
g. 穩(wěn)定的測試條件，建議用于較高PDL的6個狀態(tài)。
h. 選擇的激光器頻率范圍除以本地采樣分辨率。