三維光學(xué)顯微鏡

布魯克作為三維表面測量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有Wyko®專有技術(shù)基礎(chǔ)上，不斷積累創(chuàng)新，來保證面對各種應(yīng)用環(huán)境時三維測量所需的高靈敏度和穩(wěn)定性；而這一挑戰(zhàn)往往是其他測量技術(shù)或測量系統(tǒng)難以克服的。

布魯克三維光學(xué)顯微系統(tǒng)在業(yè)界一直以佳服務(wù)和支持著稱，在性能穩(wěn)定性上一貫口碑良好。從研究型實驗室到生產(chǎn)型車間和半導(dǎo)體無塵間，數(shù)以幾千計的系統(tǒng)被廣泛使用。作為專門為先進質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計的測量儀器，可用于精密加工制造類應(yīng)用的監(jiān)控，在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導(dǎo)體和醫(yī)療器械領(lǐng)域，布魯克總有一款適合您應(yīng)用和與預(yù)算的三維光學(xué)顯微測量系統(tǒng)。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

粗糙度測量的精簡而經(jīng)濟的臺式

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以佳的價格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計量樹立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測量功能，并結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉測量（WLI）創(chuàng)新技術(shù)。具有測量功能的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界先進的用戶友好界面，可直觀訪問廣泛的預(yù)編程過濾器庫，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。下一代增強功能包括新的5 MP攝像頭，更新的載物臺和新的測量模式，以實現(xiàn)更大的靈活性。您不會發(fā)現(xiàn)比ContourX-100更有價值的臺式設(shè)備。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

的計量

ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計量，表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和行業(yè)ling dao者的結(jié)晶。該系統(tǒng)利用3D WLI和2D成像技術(shù)在一次采集中進行多種分析。 ContourX-100在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

輪廓X-100

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-100

ContourX-100手動平臺。

的價值和分析

ContourX-100臺式機具有成千上萬的定制分析功能以及布魯克簡單而強大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率進行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對ding 級高通量光學(xué)性能的簡化訪問，*超越了同類計量技術(shù)。