產(chǎn)品信息

將光譜學(xué)與QCM-D相結(jié)合。同時(shí)使用納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。
主要特征：
a、同時(shí)獲得相同表面上相同樣品的干質(zhì)量（折射率RI）、濕質(zhì)量（聲學(xué)）和黏彈性的實(shí)時(shí)變化。
b、使用Insplorion的納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和Q-Sense的耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）在相同的實(shí)驗(yàn)條件下同時(shí)測(cè)量。
c、使用方便簡(jiǎn)單

當(dāng)配備Q-Sense窗口模塊時(shí)，Insplorion Acoulyte直接安裝在Q-sense Explorer（E1）和Analyzer（E4）儀器上。Insplorion Acoulyte傳感器是具有NPS結(jié)構(gòu)的Q-Sensor。

應(yīng)用領(lǐng)域

InsplorionNPS技術(shù)

在納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）中，納米結(jié)構(gòu)傳感器的局域表面等離激元共振技術(shù)（LSPR）用于探測(cè)鄰近傳感器表面（<30 nm）的折射率（與光/干質(zhì)量有關(guān)）的微小變化。它能夠極其靈敏地檢測(cè)發(fā)生在傳感器/樣品界面處的變化過(guò)程。

分子解吸附（吸附）

時(shí)間和深度分辨測(cè)量厚膜（<~1 mm）的分子解吸附（吸附）。Acoulyte也可以辨別溶脹和吸附/解吸附事件。

檢測(cè)到什么？

NPS：鄰近表面（<30 nm）的折射率變化

QCM-D:整個(gè)膜的質(zhì)量變化。

脂質(zhì)影響Acoulyte可以更詳細(xì)地解釋薄膜的形成過(guò)程。

檢測(cè)到什么?

NPS：囊泡吸附時(shí)RI增加；囊泡破裂時(shí)RI升高。

QCM-D：當(dāng)囊泡被吸附時(shí)質(zhì)量增加；當(dāng)囊泡破裂時(shí)，體積減少。氣體吸附/解吸附

通過(guò)QCM-D技術(shù)和NPS技術(shù)的聯(lián)用，就可以實(shí)現(xiàn)深度分析以及研究表面支撐膜內(nèi)的擴(kuò)散時(shí)間和機(jī)制。

檢測(cè)到什么？

NPS：傳感器/樣品界面的折射率變化。

QCM-D：整個(gè)膜和膜的頂部的質(zhì)量變化。

技術(shù)指標(biāo)

1、測(cè)量池

由Q-Sense窗口模塊(QWM401)決定

2、傳感器

3、測(cè)量特征

4、尺寸(寬度x深度x高度)

5、軟件