J200 LIBS元素分析儀
- 公司名稱 北京瑞頂環(huán)境科技有限公司
- 品牌 美國Applied Spectra
- 型號 J200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/6/14 10:34:30
- 訪問次數(shù) 2109
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應用領域 | 環(huán)保,農(nóng)業(yè),地礦,司法,綜合 |
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J200 LIBS元素分析儀
一、簡介
J200 LIBS元素分析儀基于30多年激光剝蝕基礎理論研究成果,系統(tǒng)快速、可靠、環(huán)保,可適應從實驗室到現(xiàn)場再到生產(chǎn)車間的各種應用環(huán)境。
二、系統(tǒng)功能
J200 LIBS元素分析儀專為處理需高靈敏度和準確性的分析而設計,周期表中許多元素檢測限可達ppm個位數(shù),挑戰(zhàn)樣品基質(zhì)中多元素定量分析。系統(tǒng)實現(xiàn)了從氫元素到钚元素的全元素測量,包括H、N、O等輕元素以及鹵族等其他傳統(tǒng)方法(包括ICP-MS)不能測量的元素。系統(tǒng)*的設計確保每個激光脈沖的可重復測量結果。
系統(tǒng)將LIBS技術和ICP-MS結合,將剝蝕出的固體樣品微粒直接送入ICP-MS進行更準確的分析,避免酸溶、消解等樣品前處理帶來的二次污染和可能的誤差引入,同時提升元素檢測限,實現(xiàn)寬范圍元素含量測量,還能進行元素空間分布制圖。
檢測范圍
J200 LIBS元素分析系統(tǒng)可分析各種樣品,包括土壤,植物,礦物、生物組織,刑偵材料(玻璃、油墨等),合金,半導體,絕緣體,塑料,薄涂層和電子材料等等。
檢測元素種類
常量元素N, P, K, Ca, Mg, S
微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl
痕量元素:可檢測化學周期表上大部分元素
有機元素C、H、O和輕元素 Li、Be、Na等(其他技術難同時檢測)
同位素(升級與ICP-MS 聯(lián)用測量)
三、應用領域
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常規(guī)土壤元素分析
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土壤污染檢測
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刑偵微量物證分析
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煤粉組分分析
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礦物檢測
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生物組織分析
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農(nóng)產(chǎn)品檢測
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合金分析
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寶石鑒定
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各種材料分析等
四、系統(tǒng)硬件
優(yōu)化等離子體光收集,實現(xiàn)高靈敏度測量。
系統(tǒng)確保高準確性和可重復性。LIBS分析種提高LIBS數(shù)據(jù)精度的關鍵要求之一是激光始終如一的聚焦到樣品表面。剝蝕導航激光和樣品高度自動調(diào)整傳感器相結合,解決了樣品表面凹凸不平導致剝蝕不均勻的問題。激光能量穩(wěn)定閥確保到達樣品表面的激光能量穩(wěn)定一致,系統(tǒng)標配3D全自動操作臺。
系統(tǒng)可升級與ICP-MS連用,在進行LIBS元素分析的同時,將固體樣品剝蝕顆粒直接送入ICP-MS系統(tǒng),實現(xiàn)更準確分析。這彌補了ICP-MS不能測量部分輕元素的不足,也避免了復雜樣品前處理及由此引入的二次污染和誤差。系統(tǒng)可與市面上絕大多數(shù)主流品牌ICP-MS聯(lián)用。
系統(tǒng)標配固體樣品室,還可選擇配置氣體或液體樣品室,通過設置可自動切換光路系統(tǒng),實現(xiàn)固、液、氣體樣品室在同一系統(tǒng)中的自動化切換,無需人為拆卸。
系統(tǒng)的硬件采用模塊化設計,易于更新。激光器和光譜儀可根據(jù)樣品的種類及用戶研究目的進行升級,兩者均不受外界環(huán)境溫度影響,無需進行特殊的環(huán)境控制,使用壽命長。
系統(tǒng)具備雙相機系統(tǒng),分別用于廣角成像整體觀察樣品確定采樣區(qū)域,然后另一個成像系統(tǒng)放大樣品區(qū)域進行采樣。
激光能量和激光光斑大小連續(xù)可調(diào),激光脈沖能量穩(wěn)定一致,可實現(xiàn)樣品分層剝蝕、夾雜物和微光斑分析(直徑達5μm)、元素分布制圖、高精度定量等多種分析。
五、系統(tǒng)軟件
系統(tǒng)軟件能實現(xiàn)對所有硬件組件的控制,能提供多種采樣模式,包括直線、曲線、隨機點、網(wǎng)格任意大小和自定義采樣等,通過設置參數(shù),可在無人值守的條件下自動進行大面積采樣。
ASI公司的TruLIBS™數(shù)據(jù)庫是等離子體發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫,與NIST數(shù)據(jù)庫相比,TruLIBS™數(shù)據(jù)庫能快速、準確地識別復雜的元素譜線,各種搜索功能,如波長范圍、元素種類和等離子體激發(fā)態(tài),將搜索時間縮短至幾秒。TruLIBS™同時允許用戶直接上傳元素激光誘導特征譜線,進行譜峰的識別和標記。
系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)分析軟件功能強大、分析速度快。能任意選取譜線及背景,自動計算譜線的凈強度;計算兩個波峰之比;自動計算所有波峰的標準偏差;同步分析所有文件夾及目錄下的測量數(shù)據(jù)。多次采樣時,軟件自動統(tǒng)計監(jiān)測LIBS的強度 ,監(jiān)控信號質(zhì)量,獲得準確的定性和定量分析結果。
數(shù)據(jù)分析軟件具有單變量和多變量校準曲線制定功能,易于完成高精度定量分析。單變量標定曲線對于基質(zhì)較為簡單的樣品分析效果較好。多變量標準曲線用于分析基質(zhì)較為復雜的樣品,例如土壤、植物樣品等,以減少基質(zhì)中其它元素對目標元素的影響,提高分析準確性。
J200的數(shù)據(jù)分析軟件還整合了PCA、PLS-DA、多參數(shù)線性回歸等多種化學統(tǒng)計分析功能。可對樣品進行快速分類鑒別,并可通過樣品某一特定元素的二維或三維分布制圖,展示樣品的元素空間分布。
產(chǎn)地:美國