zeta電位?粒徑?分子量測量系統，晶圓在線測厚系統，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學材料檢測設備，非接觸光學膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統，量子效率測量系統
| 按探測器 | CCD | 光譜范圍 | 紫外 |
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| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
MCPD系列透過率測試儀
（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）
提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據安裝現場需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環境下的即時測量系統
膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
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LB膜測量
蒸餾膜測量
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多點膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
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