透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，*地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

         透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統是在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。

性能指標
 

透射電鏡指標：

● 兼容電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

● 粗調范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纖指標：

● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統真空指標；

● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

● 可選SMA接頭、FC接頭。

產品特色

（1）采用雙向光纖，可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；

（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；

（3）高穩定性，保證電鏡原有分辨率。

以上就是北京麥迪森科技有限公司提供的透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，詳細了解：153-01-31-01-16