產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生 |
頂空分析儀X-325i是基于光學感應的熒光衰減法檢測原理,頂空分析過程不對樣品進行采樣,對頂空樣氣體積及頂空條件(如負壓)無要求,小樣氣量僅需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統(tǒng)方法諸如電化學、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件(負壓)有要求的采樣分析方式。
頂空分析儀使用熒光法特質的熒光貼片OXYDOT,可以實現(xiàn)無損檢測分析,應用于長期的包裝穩(wěn)定性研究。也可應用于溶液配液罐頂空殘氧分析。
熒光檢測原理:氧分子和熒光貼片中的熒光物質接觸后,使得熒光物質發(fā)射的熒光信號減弱,信號衰減程度和氧含量成正比。基于光學感應原理,不取樣分析,不受頂空條件影響。
X-325I是一款熒光衰減法氧氣/溶氧多功能分析儀,熒光感應原理,無取樣分析方式。對容器頂空條件無要求,適用于目前制藥行業(yè)所有的包裝形式,符合ASTM F2714-08。
特征:
● 零樣氣消耗,只需要極少的樣氣量,少0.1ml
● 可實現(xiàn)對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測
● 自動生成數(shù)據(jù)隨時間變化曲線
● 內置溫度和壓力補償
● 支持無損檢測分析,實現(xiàn)留樣分析
● 傳感器免維護,無需更換
● 設備零維護,*
● 數(shù)據(jù)自動無限儲存,PDF導出
X-325I是一款熒光衰減法氧氣/溶氧多功能分析儀,熒光感應原理,無取樣分析方式。對容器頂空條件無要求,適用于目前制藥行業(yè)所有的包裝形式,符合ASTM F2714-08。