512通道

器件測試圖例：

集成電路測試截圖：

可以放大觀看單個管腳PIN

英國abi-SWA512集成電路測試儀測試通道：

二維V-I動態阻抗端口測試通道：512路

二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道：512路

三維V-I-F動態阻抗端口測試通道：512路

設備可以64通道為步進大擴充到2048組測試通道

英國abi-SWA512集成電路測試儀功能用途：

1）集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測；

2）可用于集成電路、元器件研發測試；三維立體動態阻抗測試；

3）快速篩選**、仿制集成電路及元器件；

4）對不良器件進行三維動態阻抗失效分析；

5）非加電條件下對集成電路、電路板進行全面的端口動態阻抗測試分析；

6）快速準確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；

7）測試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點定位問題；

8）進行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；

9）專業操作管理平臺：可根據需求編輯測試流程程序，完成自定義化測試，軟件管理平臺兼容其他廠商設備。測試流程的制定貫穿整個測試過程，使集成電路、電路測試的過程形成標準的測試流程（維修流程、生產流程）。保證了測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標準化。

技術規格：

二維V-I動態阻抗端口測試通道：512路

二維V-I動態阻抗端口矩陣測試通道：512路

三維V-I-F動態阻抗端口測試通道：512路

設備可以64通道為步進大擴充到2048組測試通道

實時探筆對比測試通道：4路

同步脈沖信號：4路

測試電壓范圍：2 V ～ 50 Vp-p；

顯示圖形模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

信號電流范圍： 1 μA to 150 mA

測試阻抗范圍 : 100Ω ～ 1MΩ；

三維立體V-I-F測量方式：掃頻；

同步脈沖輸出模式：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；

同步信號振幅:可調式由 +10 V ~- 10V；

主要優勢：

1）提供軟件開發平臺，兼容其他廠商測試設備；

2）*的V-T模式可測量器件的開關時間特性（配合同步脈沖）；可設定同步脈沖信號的寬度,進行可控硅元器件或FET的功能測試。可測試三段期間開關時間特性。

3）動態阻抗分析功能，可以對三維圖形進行參數的測量；

4）變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關的故障。檢查與頻率特性有關的器件或集成電路。

5）非加電條件下靜態診斷集成電路, 不必外加電源即可進行測試。測試更安全：矩陣式掃頻測試，脈沖輸出進行的動態V/T測試。