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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>X-MET8000 日立手持式X射線熒光光譜儀

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X-MET8000 日立手持式X射線熒光光譜儀

具體成交價以合同協議為準

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月,是國家高業,廣州科技小巨人企業,并在廣東股權交易中心成功掛牌(股權代碼:892081),通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系,擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域,自主研發儀器有光學接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系,并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平,未來面向市場。

前臺.jpg

貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導,為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學家提供專業的服務。

 

我們的宗旨是為科學學提供更專業,更貼心的服務。

我們的優勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務,其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。

材料分析領域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學)、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

 

接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

分析含量范圍 -ppm-100% 價格區間 30萬-50萬
能量分辨率 0.1%eV 行業專用類型 通用
儀器種類 手持式/便攜式 應用領域 醫療衛生,環保,化工,能源,電子
元素分析范圍 -Mg-U 重復性 0

日立手持式X射線熒光光譜儀性能:

X-MET提供的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結果。通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結果可追溯和高度準確,則使用實證校準。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。

符合人體工學

X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度非常低。

堅固耐用而擁有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。

通過MIL-STD-810G耐用標準測試。

其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。

高級數據管理

*靈活:可將多達100,000條結果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。

日立手持式X射線熒光光譜儀技術參數:

應用


X-MET8000
   Smart

X-MET8000
   Optimum

X-MET8000
   Expert

廢金屬回收

材料可靠性鑒定(PMI)檢查


制造與   PMI   QA/QC

貴金屬

監管機構合規篩查

(消費品、包裝、原材料…)


   X-MET8000 Expert   CG

環境土壤篩查


   X-MET8000
   Optimum Geo

   X-MET8000 Expert   Geo

礦石和礦物


   X-MET8000
   Optimum Geo

   X-MET8000 Expert   Geo

金屬鍍層厚度測量

 X-MET8000 Expert  / Expert   CG

科技考古


   X-MET8000 Expert /   Expert   CG /   Expert   Geo

比較型號

X-MET8000 Smart

X射線管:40kV

濾光片:單一

檢測器:大面積 SDD

樣本溫度可達:400oC

符合 IP54 等級

Thick Kapton®窗口:保護以預防探測器的窗戶損壞

校準:基本參數法(FP)

內置攝像頭 (可選)


X-MET8000 Optimum

X射線管:40kV or 50kV

濾光片:6位濾光轉換器

檢測器:大面積 SDD

樣本溫度可達:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護

校準:基本參數法 (包括輕元素分析)

內置攝像頭(可選)

小光班準直器(可選)

針對所有元素(從鎂到鈾)進行優先分析的六位濾光片


X-MET8000 Expert

X射線管:50kV

濾光片:6位濾光轉換器

檢測器:大面積 SDD

樣本溫度可達:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩:預防檢測器的窗口損壞進行保護

校準方法:自動跳轉的經驗系數法(可進行追溯)

內置攝像頭

小光班準直器 (可選)

針對所有元素,從鎂到鈾,的優先分析的六位濾光片



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