■少子壽命儀 WT-2000設(shè)備升級(jí)改造  微波JMB103-O JMB103-0  皮帶定制 滑塊定制THK 主板 CONEC Z1118  光纖THOR TS1258778 移動(dòng)電機(jī)（242238）A-MAX32+HEDS5540

■紅外探傷儀 紅外光源INFRALIGHT 811 451 紅外相機(jī) IRB50 IRB-55 板卡IAB1095703

■電阻率測(cè)試儀 探頭KPT FT-201 202 探針23.5*0.5 16*0.5mm  

■EL、PL測(cè)試儀

■橢偏儀

■ 伺服系統(tǒng) FANUC802S 802C 松下 西門子 三菱

■解決出質(zhì)保期的高額維修服務(wù)費(fèi)和配件費(fèi)用高的問題。
■解決您維修周期長，耽誤生產(chǎn)的問題

HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測(cè)試儀是一款功能強(qiáng)大的無接觸少子壽命測(cè)試儀，能夠?qū)尉?/span>硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點(diǎn)少子壽命測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)*的測(cè)量儀器。

產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 無接觸和無損傷測(cè)量

■ 可移動(dòng)掃描頭，便于測(cè)量

■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量

■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等

■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本