MirrorCLEM光-電聯用顯微鏡法（CLEM）系統

日立掃描電鏡SEM, MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并準確支援CLEM解析的系統。系統配置 SU8200系列超高分辨場發射掃描電子顯微鏡

 

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CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光學顯微鏡和電子顯微鏡的聯用觀察顯微鏡法

光-電聯用顯微鏡法（CLEM）系統特色
MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并準確支援CLEM解析的系統。
使用此系統，在光學顯微鏡下從低倍率到高倍率清晰觀察樹脂切片目標結構后，讓觀察位置與FE-SEM樣品臺坐標信息同步，通過控制馬達臺在FE-SEM上可觀察同一位置。
此外，還可實時顯示光學顯微鏡和FE-SEM的疊加圖像。

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儀器設備發展的是探測手段和傳感器不對被測目標產生任何干擾，企業管理的是一切以市場為核心，不以自我的意愿抗拒市場的趨勢，代替客戶的喜好，于是我們取名“似空”，希望以忘我的精神服務客戶。