德國zeiss工業ct 無損掃描品牌采用納米CT技術研究了硅碳核桃結構。使用閾值分割方法，摳選得到Si材料。使用Avizo內嵌的連續平滑算法，得到美觀的三維渲染效果圖。使用Extract Subvolume功能，得到內部Si的直觀分布圖(圖4)。其中藍色部分為材料Si。

德國zeiss工業ct 無損掃描品牌可見硅是顆粒中以散亂的狀態分布在顆粒的心部以及外表面，且以外部包覆為主。通過Material Statistices進行統計計算，得到Si占單個顆粒的體積百分比為30%。

　　德國zeiss工業ct 無損掃描品牌為手工分割出的Si 與顆粒渲染圖，(b)為平滑處理后的Si 與顆粒渲染圖，(c)為從顆粒中截取的某一子體積的 Si 與顆粒渲染圖，其中藍色部分為材料Si。

　　德國zeiss工業ct 無損掃描品牌技術研究含硅合金負極的軟包電池容量衰減機理

　　Berckmans借助X射線CT技術，研究了含硅合金負極的軟包電池容量快速衰減的原因，發現電極層之間出現明顯的機械變形。推測主要是因為在電化學循環過程中，FEC分解產生了較多的CO2氣體。

FEC與電解液反應，生成LiF，有助于形成更穩定的SEI膜，能增加循環穩定性，但是同時會產生CO2氣體。CO2氣體會阻礙鋰離子的傳輸，造成活性表面積損失，電池容量降低。產氣量過大，使用FEC的負效應超過正效應。

　　德國zeiss工業ct 無損掃描品牌隨后作者試圖采用外加壓力的方式降低FEC的分解速率，發現放電容量增加19%。此外，測試結束后沒有看到電池出現鼓脹現象，表明施加外壓能降低FEC的消耗速率。

德國zeiss工業ct 無損掃描品牌因此，在設計含硅材料的電池時，外壓是需要考慮的關鍵參數之一。