嵌入式膜厚儀FE-5000
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/25 15:58:00
- 訪問次數 263
產品標簽
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嵌入式膜厚儀FE-5000在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應所有種類的薄膜。嵌入式膜厚儀FE-5000在傳統旋轉分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
特點
可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數
可分析納米級多層薄膜的厚度
可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜
通過可變反射角測量，可詳細分析薄膜
通過創建光學常數數據庫和追加菜單注冊功能，增強操作便利性
通過層膜貼合分析的光學常數測量可控制膜厚度/膜質量
測量項目
測量橢圓參數（TANψ，COSΔ）
光學常數（n：折射率，k：消光系數）分析
薄膜厚度分析
采購中心
化工儀器網