TEM透射電鏡是一個真正多功能，多用戶環境的*儀器。它將各種透射電鏡技術(包括TEM、HRTEM、STEM、電子衍射、EDX透鏡等)一體化，形成強大的分析功能。除了具有200kV的各種優點外，Tecnai G2F30提供了300kV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰性的樣品。Tecnai G2F30可以在原子尺度的分辨率下對材料進行高質量、高穩定性的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析，及各種材料微區化學成分的定性和定量檢測。

TEM透射電鏡主要技術指標：

加速電壓：300KV                    

電子槍：  肖特基場發射電子槍

分辨率：  點分辨率：0.205 nm

　　　　線分辨率：0.102 nm        

               信息分辨率：0.14nm    

               HR STEM分辨率：0.16nm

              EDX分辨率：136eV                    

放大倍數：TEM 模式  60X—1000KX

         HAADF STEM模式  200X—100M    

    應用領域：

　　　主要用于生物體、高分子和無機非金屬材料等樣品的內部亞顯微結構觀察。廣泛應用于生物、能源、半導體、高分子、陶瓷、納米材料、化工、機電、環境、制藥等研究領域。