EELS Mapping透射電子顯微鏡
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 青島欣飛檢測有限公司-J
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/18 11:24:31
- 訪問次數 940
產品標簽
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| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發射 |
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近年來，EELS Mapping透射電子顯微鏡的進步顯著，為突出的是球差校正技術的開發。（TEM HRTEM）球差電鏡中使用的磁場透鏡，原理上因為只能采用凸透鏡制作，并不能像光學顯微鏡一樣通過組合凹透鏡改善像差。因此，鏡片的各種像差，尤其是3層球面像差（Cs）的影響，分辨率會有所限制。但是近幾年來，利用理論上一直被倡導的多極子實現了凹透鏡裝置的制作，并憑借電穩定性的提高和調節中必要實驗的數據積累等而終被廣泛應用。這種球差校正構造結合了TEM的透射和成像功能，實現了即便加速電壓值200KV也無法實現的0.1nm的分辨率，使單個原子等級上的位置鎖定和元素識別成為可能。
EELS Mapping透射電子顯微鏡應用：
（1）高分辨
（2）HAADF-STEM
（3）Mapping
(4)EELS
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