SE-SEMI-XYZ Auto tage全光譜橢偏儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 致東光電科技(上海)有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/3/22 13:17:17
- 訪問次數 439
產品標簽
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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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SE-SEMI-XYZ Auto tage全光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量儀器。由于測量精度高,適用于超薄膜,與樣品非接觸,對樣品沒有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種吸引力的測量儀器。SE-SEMI-XYZ Auto tage全光譜橢偏儀反演問題的方法就是在衰減分析中,應用Levenberg-Marquardt算法。利用比較方程,將實驗所得到的數據和模型生成的數據比較。通常,定義均方誤差為:
在有些情況下,小的MSE可能產生非物理結果。但是加入符合物理定律的限制或判斷后,還是可以得到很好的結果。衰減分析已經在橢偏儀分析中收到成功的應用,結果是可信的、符合物理定律的、精確可靠。