菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀
- 公司名稱 蘇州英蒔特儀器科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2022/11/1 21:58:26
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價格區間 | 面議 |
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菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,*多毛細孔X 射線光學系統設計,可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于無損分析和測量極微小部件上鍍層的厚度,即使是復雜的鍍層結構,也同樣應付自如。
為了使每次測量都能在條件下進行,XDV-μ 配備了各種可電動切換的基本濾片。良好的硅漂移接收器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。由于采用了開創性的多毛細管 X 射線光學系統設計,本款儀器能在極其微小的測量面積上產生非常高的激發強度。
出色的準確性及長期的穩定性是 FISCHER X 射線儀器的共有特點,因此也大大減少了重新校準儀器的需要,為您節省時間和精力。
由于采用了 FISCHER 的*基本參數法,無論是鍍層系統還是固體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。
儀器可以選配一個大面積的工作臺,用以配合對大型印制電路板進行測量。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和馬達驅動的 Z 軸升降臺。側面開槽的設計,可測量面積更大的工件,如印制電路板等。當外保護面罩開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。
通過激光點,可以快速對準需要測量的位置。儀器內置高分辨率彩色攝像頭,簡化了對測量點進行精確對位的過程。
菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀
所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM®軟件在電腦上完成。
多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的24 種元素
測量門向上開啟的臺式儀器,側面開槽設計。
馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺
馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。
配備三擋高壓和4個可切換的基本濾片。
可按要求,提供額外的XDV型產品更改和XDV儀器技術咨詢