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菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀

具體成交價以合同協議為準

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蘇州英蒔特儀器科技有限公司是一家專業的檢測儀器供應商、服務商以及實驗室整體檢測方案配套銷售的綜合性公司,坐落于交通便利的江蘇省昆山市,公司是由行業資深人士創辦并專注于代理國內外廠商儀器;
材料熱分析儀器,熱重量法(TG)、差示掃描量熱法(DSC)、差(示)熱分析(DTA)、導數熱重量法(DTG)、熱機械分析(TMA)和動態熱機械分析(DMA)
材料成分檢測儀器,氣相色譜質譜聯用儀(GC-MS)、X熒光光譜儀(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、液相色譜(LC)、傅立葉變換紅外光譜儀(FT-IR)
ROHS2.0實驗室建立,前期規劃與設計、檢測方法介紹、儀器選擇、耗材及售后維護等,相關法律法律法規咨詢一站式服務。




紅外光譜儀器、X熒光光譜儀器、GC-MS氣相氣質儀器、LC液相色譜儀器

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菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀

X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,*多毛細孔X 射線光學系統設計,可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于無損分析和測量極微小部件上鍍層的厚度,即使是復雜的鍍層結構,也同樣應付自如。

為了使每次測量都能在條件下進行,XDV-μ 配備了各種可電動切換的基本濾片。良好的硅漂移接收器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。由于采用了開創性的多毛細管 X 射線光學系統設計,本款儀器能在極其微小的測量面積上產生非常高的激發強度。

出色的準確性及長期的穩定性是 FISCHER X 射線儀器的共有特點,因此也大大減少了重新校準儀器的需要,為您節省時間和精力。

由于采用了 FISCHER 的*基本參數法,無論是鍍層系統還是固體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。

儀器可以選配一個大面積的工作臺,用以配合對大型印制電路板進行測量。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和馬達驅動的 Z 軸升降臺。側面開槽的設計,可測量面積更大的工件,如印制電路板等。當外保護面罩開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。

通過激光點,可以快速對準需要測量的位置。儀器內置高分辨率彩色攝像頭,簡化了對測量點進行精確對位的過程。

菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀

所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM®軟件在電腦上完成。

多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的24 種元素

測量門向上開啟的臺式儀器,側面開槽設計。

馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺 

馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。

配備三擋高壓和4個可切換的基本濾片。

可按要求,提供額外的XDV型產品更改和XDV儀器技術咨詢



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