Hawk 200

優異的光學技術

精密元器件的精確非接觸式測量要求高分辨率、高對比度成像、和結合一個精密的測量平臺。 

Hawk 200采用英國工業顯微鏡有限公司的高能光學技術，為快捷和簡易的測量，提供強化的表面清晰度。優異的光學透明度同時能同步地進行細致的視覺檢測。 

有所視頻系統數碼化光學信息。Hawk 200與其區別之處，是運用一個沒經過測量前處理的純光學成像。元器部件必能準確地被測量。 

 

精密測量平臺

Hawk 200可選配各種高規范、高性能的測量平臺，提供測量規格可達 400毫米x 300毫米(16英吋x 12英吋)。所有的測量平臺均已通過非線性誤差修正（NLEC）方法進行出廠前的預裝校準，以保證優良的精度，這校準可溯及NPL/NAMAS/NIST標準以符合ISO9000質量認證。結合0.5μm分辨力的測量譯碼器，這保證該系統2μm的可重復性精度。* 

 

直觀的微處理器

數據處理由 QC-200 多功能微處理器完成，QC-200 zui適用于測量普通元器件的外貌特征，例如圓、角、線、弧及距離，并且以操作簡便為主而設計，采用了一個直觀的界面裝置及有實質的視覺顯示。X、Y和Z坐標測量是以數字和圖解形式表示。輸出連接包括USB端口、并聯端口和串聯端口。

 

選配件和附屬配件

表面光和底部光照明裝置選配件能使光源調節適用于任何測量應用。表面光照明裝置由一組6-點光的無影環形燈提供，可加裝同軸光裝置（光線透過物鏡）的選配件，用于觀察盲孔或深層形狀。快速更換的低放大倍率選配件為：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作為標配），配置高倍率物鏡，并可裝插在四孔位的物鏡轉換器上，其放大倍率為：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。