植物圖像分析儀系統操作方法|價格|云飛科技
植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的研究與教學中農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等。植物冠層圖象分析儀廣泛適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的研究與教學中農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等。
植物圖像分析儀系統    產品簡介：
該多用途*型的植物葉面積、根系、年輪、葉色分析儀是一種方便、可在野外或實驗室使用的綜合性分析儀器，精確度遠高于傳統的分析儀（傳送或基于相機的類型）。采用統一標準，可精確、快速、無損傷地測定葉片的葉面積和葉色參數，也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體進行面積測量，還可進行葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于植物或作物氮肥狀態的快速評價）。系統的植物年輪分析模塊可用于樹木年代學、年輪生態環境變化學、年輪氣候學、地理科學、考古學研究。植物根系分析模塊為可選模塊，用于洗根后的專業根系分析，可分析根系長度、直徑、面積、體積、根尖記數等，其功能強大，操作簡單，運用于根系形態和構造研究。該儀器綜合了植物、農作物在葉面積、根系、年輪、葉色這4大方面的分析功能，廣泛適用于農業、林業、氣象等部門。
植物圖像分析儀系統  技術參數：
葉分析測量參數：葉面積 （可累計面積）、葉片面積（可累計面積）、葉子穿孔面積 （可累計面積）、葉片長度和寬度、葉柄長度、葉周長 （不受葉片孔洞影響）、葉片周長、葉片長寬比、葉片形狀系數、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度、寬度、數量測量，葉孔面積測量；包膜（齒-齒之間的直線長度和），包膜形成的投影面積；不規則葉片形態分析，輔助真彩病理分析，葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于氮肥狀態的外觀評價）。
植物年輪測量分析：可自動判讀年輪數、各年輪平均寬度、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積。可自動劃分出年輪邊界、早材邊界、晚材邊界，以及識別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪、插入斷年輪。分析獲得的測量數據具備進一步做交叉定年、生成年表、數據分析處理能力。
植物根系可分析測量：1）根總長；2）根平均直徑；3）根總面積；4）根總體積；5）根尖計數；6）分叉計數；7）交疊計數；8）根直徑等級分布參數，等。匹配專門的雙光源照明系統，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現象的影響，有效保證圖像質量。采用非統計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可讀取處理TIFF、BMP、JPEG標準格式的圖像。
植物葉面積分析   植物葉色比對分檔
植物年輪分析1    植物年輪分析2
植物根系分析1    植物根系分析2

植物圖像分析儀系統操作方法|價格|云飛科技植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中zui精確和zui省力、省時、快捷方便的方法。

植物冠層圖像分析儀適用于森林及低矮植物冠層測量；廣泛應用于植物研究，農業生產和農業科研，研究植物冠層內部的光照輻射透過情況，研究植物的生長發育、人工栽培管理、產量品質與光能利用間的關系，可根據獲取的植物冠層圖像計算出葉面積指數LAI、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直接輻射透過率、消光系數和葉面積密度的方位分布、任意地點和任意時期的太陽軌跡等冠層參數。