日本電子SEM掃描電子顯微鏡JSM-IT300經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

高品質的圖像

日本電子SEM掃描電子顯微鏡JSM-IT300通過改進電子光學系統，使圖像質量更高，成像和分析更快。

減少了充放電現象

新的掃描方式能抑制非導電性樣品的荷電效應。

低真空模式(LV)

低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa，拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。

多功能：
 

大型樣品室和樣品臺

能容納大型、較重的樣品，可裝載zui大尺寸為200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達2 kg 的樣品。

*幾何設計的分析接口

多個接口可以安裝EDS、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面，此外，還能安裝兩個相隔
180 度的EDS 檢測器用于高通量的顯微分析。

移動迅速的樣品臺

新開發馬達驅動樣品臺能快速地定位 ( 與其它JEOL 的產品相比快1.5 倍）。

全自動5 軸馬達驅動樣品臺

采用了機械對中、五軸（X、 Y,、Z、T、R) 異步馬達控制的樣品臺，當觀察厚樣品或當感興趣區域(ROI)
不在傾斜軸的中心時，可利用標配的計算機控制的全對中傾斜和旋轉校正功能。

全新的真空系統

全新的真空系統縮短了樣品交換后抽真空的時間，使低真空模式下的信號更好。


直觀的操作：

觸摸屏界面

新設計和開發的圖形用戶界面（GUI）使操作更加舒適，還能支持觸摸屏操作。 用戶界面的大小可以調節，因此在分析或數據處理時，可以優化工作空間。
 

多用戶、多任務

多用戶登錄功能，可用于自定義工作區和樣品條件的設置。

支持多語言

用戶界面語言可以在日語和英語間切換( 通過圖標選擇)。