BKTEM-Dx 熱電材料性能測試儀
參考價(jià) | ¥ 9999 |
訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 品牌 Bigdipper/北斗星儀器
- 型號(hào) BKTEM-Dx
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/15 18:46:36
- 訪問次數(shù) 3180
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,電氣 |
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BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀介紹:
關(guān)鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效。
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是是其對(duì)熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,主要原理和特點(diǎn)如下:
該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
測試原理:
原理:
(1)通過測量派對(duì)或器件開路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的輸出功率。
(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測量通過熱電派對(duì)或器件的熱流量,其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是:當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí),其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過校準(zhǔn)的通過熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量,即為通過派對(duì)或器件的熱流。
(3)大輸出功率與通過的熱流相比求得轉(zhuǎn)換效率。
適用范圍:
1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。
2、地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。
3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。
4、擁有自身分析軟件,獨(dú)立分析,過程自動(dòng)控制,界面友好。
技術(shù)特點(diǎn):
解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。
溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
每次可測試1-3個(gè)樣品。
采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)。
主要技術(shù)參數(shù):
BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 | |
測量溫度 | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ | 室溫-600℃ |
同時(shí)測試樣品數(shù)量 | 1個(gè) | 2個(gè) | 3個(gè) |
控溫精度 | 0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃) | ||
熱流量測量 | 采用溫差電熱流計(jì)測量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流 | ||
測量原理 | 塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法 | ||
測量范圍 | 塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù):10nOhm | ||
測量精度 | 塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5% | ||
樣品尺寸 | 方條形:2-3×2-3mm×10-23mm長 | ||
熱電偶導(dǎo)距 | ≥6mm | ||
電流 | 0to160mA | ||
氣氛 | 減壓He(具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng),真空工況下,真空度:≤6×10-2Pa) | ||
加熱電極相數(shù)/電壓 | 單相,220V | ||
熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率 | 0.01W~10W | ||
夾具接觸熱阻 | ≤0.05m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理 |
單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
圖2雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖