Microsemi 3120A 相位噪聲及艾倫方差測試儀

Microsemi公司的3120A相位噪聲及艾倫方差測試儀能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的相位噪聲和艾倫偏差測量，被測信號范圍從0.5MHz至30MHz，覆蓋全部zui常用的標(biāo)準(zhǔn)頻率參考。3120A需要一個外部參考頻率源，以及運(yùn)行在外部計算機(jī)上的測試軟件來完成相位噪聲及艾倫方差的測量。除了相位噪聲和艾倫偏差，用戶還可以選擇升級測試軟件，還可以獲得HDEV、MDEV、TDEV、抖動（jitter）的測量數(shù)據(jù)，以及頻率計數(shù)器和Mask限制測試的功能。

3120A采用了全數(shù)字架構(gòu)，使用*、高速、低噪聲數(shù)模轉(zhuǎn)換器，不需要鎖相環(huán)進(jìn)行測量，配合簡單易用的測試軟件，是客戶完成頻率測試、測量工作的，經(jīng)濟(jì)效益的方式。

主要特征：

• 小巧的外形，經(jīng)濟(jì)的價格
• 不需要校準(zhǔn)，幾秒鐘就可顯示測量結(jié)果
• 支持被測和參考信號為不同的頻率
• 實(shí)時圖形顯示相位及頻率偏差，可記錄超過100萬個采集點(diǎn)
• 具備數(shù)字I/O擴(kuò)展端口和獨(dú)立的ADC輸入
• 隨機(jī)的測量軟件，簡單易用，具備高效的表現(xiàn)
• 支持直觀的ASCII文件類型的數(shù)據(jù)導(dǎo)入/導(dǎo)出

技術(shù)規(guī)格：

Microsemi 3120A 相位噪聲及艾倫方差測試儀

• 輸入/參考頻率

范圍：0.5至30MHz

類型：-5dBm至20dBm，50Ω

連接器：TNC-F

駐波比：1.5:1或更佳

隔離度：130dB或更加（10MHz）

zui大允許電壓：+/-5V，任意RF輸入

• 艾倫方差：5MHz-25MHz，

t=1s： 1.0E-13zui小值，5.0E-14（50Hz ENBW）

t=1000s：5.0E-15zui小值，1.0E-15（50Hz ENBW）

• 相位穩(wěn)定度（5MHz）：

低于10ps/小時，開機(jī)2小時后，典型值3ps/小時

• 殘余相位噪底： 5MHz 25MHz

1Hz -140dBc -135dBc

10Hz -170dBc -165dBc

• 雜散響應(yīng)（SFDR）：

低于-100dBc，（5MHz 1Hz-100kHz）相位噪聲，

典型值-120dBc

• 規(guī)格尺寸：

尺寸：28cm*12cm*7.5cm

重量：1kg

• 運(yùn)行環(huán)境：

供電：90-264V交流，47-63Hz

功率：小于25W

運(yùn)行溫度：15℃至35℃

存儲溫度：-20℃至50℃

• 升級選項(xiàng)：

AM噪聲測量

頻率計數(shù)器

HDEV、TDEV、MDEV、Jitter測量

自動篩選（Mask TEST）

：徐海輝 

北京創(chuàng)宇星通科技有限公司（美國Microsemi鉆石代理商）

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