SR系列 薄膜反射儀
- 公司名稱 德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) SR系列
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/17 16:55:47
- 訪問次數(shù) 2836
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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SR系列薄膜反射儀是一款相對(duì)較低成本和操作簡單的工具。
SR系列薄膜反射儀特征:
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簡單易操作
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*系統(tǒng)性能基于*進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)
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基于陣列的探測器系統(tǒng)保證快速測量
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測量薄膜厚度和折射率可達(dá)5層
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允許在毫秒內(nèi)獲得反射、透射和吸收光譜
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可用于實(shí)時(shí)或在線厚度,折射率的監(jiān)測
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系統(tǒng)具有全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫
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*進(jìn)的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質(zhì)近似(EMA)每個(gè)單獨(dú)的膜。
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可升級(jí)到MSP(顯微分光光度計(jì))系統(tǒng),SRM映射系統(tǒng),多通道系統(tǒng),大點(diǎn)的·直接測量圖案或功能結(jié)構(gòu)
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適用于多種不同厚度的基材
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各種附件可用于特殊配置,如運(yùn)行曲線測量曲面
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2D和3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理接口