Thick 8000 鍍層測厚儀
- 公司名稱 江蘇天瑞儀器股份有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Thick 8000
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/12/19 21:42:13
- 訪問次數 7853
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RoHS檢測儀;X熒光光譜儀;RoHS檢測設備;RoHS指令;貴金屬檢測;鍍層檢測;x射線熒光光譜儀;熒光光譜分析儀;rohs測試儀;rohs檢測儀器;XRF;Rohs;環保檢測儀;歐盟測試儀;
價格區間 | 面議 |
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Thick 8000天瑞鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick 8000鍍層測厚儀性能優勢
1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統
3.的圖像識別
4.輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換
6.雙重保護措施,實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動自檢、復位;
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
直接全景或局部景圖像選取測試點;
軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。
技術指標
分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)
SDD探測器:分辨率低至135eV
的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃