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gdat-a 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 介電常數(shù)測(cè)試儀
- 公司名稱 北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號(hào) gdat-a
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/12 11:31:09
- 訪問(wèn)次數(shù) 2041
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀
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電壓擊穿試驗(yàn)儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,體積表面電阻率測(cè)試儀,海綿泡沫落球回彈試驗(yàn)儀,介電常數(shù)測(cè)試儀,體積電阻率測(cè)試儀,海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,橡膠塑料滑動(dòng)摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),耐電弧試驗(yàn)儀,毛細(xì)管流變儀,自動(dòng)進(jìn)樣器,電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀:GDAT-A
滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
二、技術(shù)指標(biāo)
1.Q值測(cè)量
a.Q值測(cè)量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c.標(biāo)稱誤差
項(xiàng) 目 GDAT-A
頻率范圍 20kHz~10MHz;
固有誤差 ≤5%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍 10MHz~60MHz;
固有誤差 ≤6%±滿度值的2%;
工作誤差 ≤8%±滿度值的2%。
2.電感測(cè)量范圍:14.5nH~8.14H
3.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀電容測(cè)量:1~ 460
項(xiàng) 目 GDAT-A
直接測(cè)量范圍 1~460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準(zhǔn)確度 30~500pF;150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則
4.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍
項(xiàng) 目 GDAT-A
頻率范圍:10kHz~50MHz
頻率分段(虛擬)10~99.9999kHz;100~999.999kHz;1~9.99999MHz;10~60MHz
本儀器測(cè)試儀方法如下:
儀器的測(cè)試準(zhǔn)備工作
先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。
b. 把本測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
c. 配上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求), 如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵,打開(kāi)液晶顯示屏。
e. 調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿,使平板電容器二極片相接為止,長(zhǎng)按SET按鍵將初始值設(shè)置為0。
4.介電常數(shù)Σ的測(cè)試
a. 再松開(kāi)二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過(guò)緊或過(guò)松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測(cè)試
a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測(cè)樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測(cè)試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 -C1
d. 計(jì)算被測(cè)樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)公式如下:
?
式中:CZ 為測(cè)試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)C0 為測(cè)試電感的分布電容 (參考LKI-1 電感組的分布電容值)
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