第十四屆納博會盛大舉行澤攸科技攜前沿創新成果驚艷亮相

2024年10月28日 11:13:42來源：化工儀器網點擊：6211

　　【化工儀器網廠商報道】2024年10月23日至25日，第十四屆中國國際納米技術博覽會在蘇州舉辦。此次盛會重點聚焦納米新材料、微納制造、第三代半導體、納米壓印、納米大健康、能源與清潔技術、納米生物技術等產業領域，再次吸引了全球納米技術領域的頂尖專家、學者和企業代表齊聚一堂，共同探討納米科技的最新進展和未來發展趨勢。

　　
安徽澤攸科技有限公司成立于2016年，擁有安徽銅陵、北京、上海和東莞四家分公司，是一家具有完全自主知識產權的精密儀器高科技公司。公司專注于掃描電鏡、原位測量系統、臺階儀、探針臺、電子束光刻機等精密設備的研究，填補了國家在高端精密儀器領域的諸多空白。

　　安徽澤攸科技有限公司(簡稱“澤攸科技”)作為參展企業之一，攜其自主研發的ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡、JS100B臺階儀和干式液氦溫區探針臺亮相展會。

　　ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡

ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡

　　澤攸科技專注于桌面級掃描電鏡研發制造，ZEM 系列掃描電鏡具有體積小巧、移動便捷、維護方便、環境適應能力強等優點。澤攸ZEM察列掃描電鏡采用全中文交互系統，界面簡潔清晰，功能豐富全面，操作方便怏捷。澤攸 ZEM 系列掃描電鏡內置光學攝像頭，進樣時拍攝導航圖片，鼠標點擊導航圖片任意位置，樣品臺即會實時連動導航，快速找到樣品對應的區域。

　　澤攸ZEM系列掃描電鏡采用預對中鎢燈絲，自帶韋氏帽，燈絲已做好預對中，并已發射驗證，降低燈絲更換難度。澤攸ZEM系列掃描電鏡提供兩軸、三軸、五軸樣品臺，可實現多個軸的運動和組合，靈活性高，為測試樣品提供更為精準的位置坐標，方便精確的測定樣品。深攸ZEM系列掃描電讓可造配低真空模式，可在1-60Pa自由切換。對于不導電樣品可不噴金快速檢測，避免噴金對部分樣品表面形貌，能譜(EDS)測試的影響與干擾。

　　JS100B臺階儀

　　國產半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定、可靠的重復性測量。JS100B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區，方便定位特征區域，同時探針掃描時可實時觀察掃描區域。

　　JS100B臺階儀量測精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設計、售后便捷、極高性價比，應用于刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量；薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數測量；各式薄膜等應力測量；3D掃描成像。

　　干式液氦溫區探針臺

　　干式液氦溫區探針臺真空度優于6×10-4 Pa，降溫后優于6×10-5 Pa。探針臺留有2個用戶法蘭接口(KF40可接入氣體或者額外的電纜)、標配6個探針臂，調節范圍110mm*50mm*30mm，精度優于10um。每個探針臂配一根Triax三同軸低漏電線纜及探針，樣品臺底座配備額外一根Triax三同軸低漏電線纜。

　　干式液氦溫區探針臺的顯微鏡模塊配備連續變倍單筒顯微鏡，光學放大倍率為0.5X~3. 75X(使用0. 75X附加物鏡時)，視頻放大倍率約700倍，可選2X附加物鏡，分辨率優于2um。配備全高清數字攝像頭，帶同軸照明和環形照明，帶機械調焦和光學調焦；變溫樣品臺直徑標配50mm，可選配150mm。變溫范圍為6K~400K，控溫穩定性優于±0.01 K；可選配接入光纖，可將一根或幾根電學探針替換為光纖；系統直流漏電低于1pA；產品含進口分子泵機組、全量程真空規和智能溫控儀。

　　此次展會不僅展示了澤攸科技在納米技術領域的最新成果，也為公司與行業內其他企業和專家的合作提供了良好的契機。在展會期間，澤攸科技的展位吸引了眾多行業專家和企業的參觀和交流。澤攸科技將繼續致力于高端科學儀器裝備的研發和生產，為科研和生產提供更加先進的工具和設備，為技術創新和產業發展貢獻更多力量。

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